前一天，」皮尔兹的声音清晰而冷静，「一批相关专利，已经通过了实质审查阶段，进入授权公告前的最后程序……其中包括最核心的三项」
她用雷射笔依次点着三份文件：
「第一，一种tem/apt通用样品制备方法。核心是利用特定参数的fib刻蚀和原位微纳操纵探针，在tem观测的薄膜目标区域『雕刻』出符合apt分析要求的纳米针尖。」
「第二，一种统一穿透测试视场的采样纳米针尖结构设计。这种特殊几何形状的针尖，确保tem观测的视场区域与后续apt进行场蒸发的针尖顶端区域，在空间上高度重合或可精确对应。」
「第三，一种透射电子显微镜下的四自由度纳米操纵平台及其定位方法。集成了雷射定位和图像识别算法，确保tem观察后，能高精度、原位地将同一微区的样品针尖送入apt分析位置……」
「……」
(本章完)